Field-of-view extension and XY-drift correction in microscopy for large samples
- Autor(es):
- Silva, Alejandro ; Arocena, Miguel ; Alonso, Julia R.
- Tipo:
- Preprint
- Versión:
- Enviado
- Financiadores:
- Agencia Nacional de Investigación e Innovación ANII (Grant number FMV_2019_1_156126).
- Resumen:
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We propose a method for sample XY-drift correction by means of feature detection and correlation analysis along with field-of-view extension for large sample images taken through a microscope with a motorized XY stage.
- Año:
- 2022
- Idioma:
- Inglés
- Temas:
- Microscopio
Impresión 3D
Muestras
- Institución:
- Universidad de la República
- Repositorio:
- COLIBRI
- Enlace(s):
- https://hdl.handle.net/20.500.12008/32860
- Nivel de acceso:
- Acceso abierto
