Field-of-view extension and XY-drift correction in microscopy for large samples

 

Autor(es):
Silva, Alejandro ; Arocena, Miguel ; Alonso, Julia R.
Tipo:
Preprint
Versión:
Enviado
Financiadores:
Agencia Nacional de Investigación e Innovación ANII (Grant number FMV_2019_1_156126).
Resumen:

We propose a method for sample XY-drift correction by means of feature detection and correlation analysis along with field-of-view extension for large sample images taken through a microscope with a motorized XY stage.

Año:
2022
Idioma:
Inglés
Temas:
Microscopio
Impresión 3D
Muestras
Institución:
Universidad de la República
Repositorio:
COLIBRI
Enlace(s):
https://hdl.handle.net/20.500.12008/32860
Nivel de acceso:
Acceso abierto