Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.

Izquierdo, Daniel - Camacho, María Inés - Slomovitz, Daniel

Resumen:

Se describe un sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia de 1 ohm basado en la comparación de resistores de alta estabilidad, tomando como referencia la calibración externa de uno de los elementos en forma regular. El sistema intercompara, en forma periódica, cinco resistores tipo Thomas mediante un scanner y un multímetro digital de alta precisión, controlados por una computadora. Usando análisis estadísticos y gráficos de control se determina la estabilidad y posibles apartamientos de alguno de los elementos que conforman el conjunto. Este desarrollo fue realizado para el mantenimiento del patrón resistencia por parte de UTE (Instituto Metrológico Nacional delegado).


Detalles Bibliográficos
2013
Resistor
Patrón
Alta precisión
Incertidumbre
Trazabilidad
Español
Universidad de la República
COLIBRI
https://hdl.handle.net/20.500.12008/30264
Acceso abierto
Licencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)
_version_ 1807522898947080192
author Izquierdo, Daniel
author2 Camacho, María Inés
Slomovitz, Daniel
author2_role author
author
author_facet Izquierdo, Daniel
Camacho, María Inés
Slomovitz, Daniel
author_role author
bitstream.checksum.fl_str_mv 6429389a7df7277b72b7924fdc7d47a9
a006180e3f5b2ad0b88185d14284c0e0
36c32e9c6da50e6d55578c16944ef7f6
1996b8461bc290aef6a27d78c67b6b52
537f210412594eca8fd38ee0cd7f660e
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
bitstream.url.fl_str_mv http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/5/license.txt
http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/2/license_url
http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/3/license_text
http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/4/license_rdf
http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/1/ICS13.pdf
collection COLIBRI
dc.contributor.filiacion.none.fl_str_mv Izquierdo Daniel, UTE Laboratorio
Camacho María Inés, UTE Laboratorio
Slomovitz Daniel, Universidad de la República (Uruguay). Facultad de Ingeniería.
dc.creator.none.fl_str_mv Izquierdo, Daniel
Camacho, María Inés
Slomovitz, Daniel
dc.date.accessioned.none.fl_str_mv 2021-12-01T15:33:52Z
dc.date.available.none.fl_str_mv 2021-12-01T15:33:52Z
dc.date.issued.none.fl_str_mv 2013
dc.description.abstract.none.fl_txt_mv Se describe un sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia de 1 ohm basado en la comparación de resistores de alta estabilidad, tomando como referencia la calibración externa de uno de los elementos en forma regular. El sistema intercompara, en forma periódica, cinco resistores tipo Thomas mediante un scanner y un multímetro digital de alta precisión, controlados por una computadora. Usando análisis estadísticos y gráficos de control se determina la estabilidad y posibles apartamientos de alguno de los elementos que conforman el conjunto. Este desarrollo fue realizado para el mantenimiento del patrón resistencia por parte de UTE (Instituto Metrológico Nacional delegado).
dc.format.extent.es.fl_str_mv 2 p.
dc.format.mimetype.es.fl_str_mv application/pdf
dc.identifier.citation.es.fl_str_mv Izquierdo, D., Camacho, M. y Slomovitz, D. Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia [en línea]. EN: X SEMETRO 2013, 10th International Congress on Electrical Metrology, Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), Buenos Aires, Argentina, 25-27 sep 2013, 2 p.
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv https://hdl.handle.net/20.500.12008/30264
dc.language.iso.none.fl_str_mv es
spa
dc.publisher.es.fl_str_mv SEMETRO
dc.relation.ispartof.es.fl_str_mv X SEMETRO 2013, 10th International Congress on Electrical Metrology, Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), Buenos Aires, Argentina, 25-27 sep. 2013, pp. 1-2.
dc.rights.license.none.fl_str_mv Licencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.source.none.fl_str_mv reponame:COLIBRI
instname:Universidad de la República
instacron:Universidad de la República
dc.subject.es.fl_str_mv Resistor
Patrón
Alta precisión
Incertidumbre
Trazabilidad
dc.title.none.fl_str_mv Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
dc.type.es.fl_str_mv Ponencia
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/conferenceObject
dc.type.version.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
description Se describe un sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia de 1 ohm basado en la comparación de resistores de alta estabilidad, tomando como referencia la calibración externa de uno de los elementos en forma regular. El sistema intercompara, en forma periódica, cinco resistores tipo Thomas mediante un scanner y un multímetro digital de alta precisión, controlados por una computadora. Usando análisis estadísticos y gráficos de control se determina la estabilidad y posibles apartamientos de alguno de los elementos que conforman el conjunto. Este desarrollo fue realizado para el mantenimiento del patrón resistencia por parte de UTE (Instituto Metrológico Nacional delegado).
eu_rights_str_mv openAccess
format conferenceObject
id COLIBRI_665cedb9a4fff443112dd795cf48f2fa
identifier_str_mv Izquierdo, D., Camacho, M. y Slomovitz, D. Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia [en línea]. EN: X SEMETRO 2013, 10th International Congress on Electrical Metrology, Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), Buenos Aires, Argentina, 25-27 sep 2013, 2 p.
instacron_str Universidad de la República
institution Universidad de la República
instname_str Universidad de la República
language spa
language_invalid_str_mv es
network_acronym_str COLIBRI
network_name_str COLIBRI
oai_identifier_str oai:colibri.udelar.edu.uy:20.500.12008/30264
publishDate 2013
reponame_str COLIBRI
repository.mail.fl_str_mv mabel.seroubian@seciu.edu.uy
repository.name.fl_str_mv COLIBRI - Universidad de la República
repository_id_str 4771
rights_invalid_str_mv Licencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)
spelling Izquierdo Daniel, UTE LaboratorioCamacho María Inés, UTE LaboratorioSlomovitz Daniel, Universidad de la República (Uruguay). Facultad de Ingeniería.2021-12-01T15:33:52Z2021-12-01T15:33:52Z2013Izquierdo, D., Camacho, M. y Slomovitz, D. Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia [en línea]. EN: X SEMETRO 2013, 10th International Congress on Electrical Metrology, Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), Buenos Aires, Argentina, 25-27 sep 2013, 2 p.https://hdl.handle.net/20.500.12008/30264Se describe un sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia de 1 ohm basado en la comparación de resistores de alta estabilidad, tomando como referencia la calibración externa de uno de los elementos en forma regular. El sistema intercompara, en forma periódica, cinco resistores tipo Thomas mediante un scanner y un multímetro digital de alta precisión, controlados por una computadora. Usando análisis estadísticos y gráficos de control se determina la estabilidad y posibles apartamientos de alguno de los elementos que conforman el conjunto. Este desarrollo fue realizado para el mantenimiento del patrón resistencia por parte de UTE (Instituto Metrológico Nacional delegado).Submitted by Ribeiro Jorge (jribeiro@fing.edu.uy) on 2021-12-01T00:43:28Z No. of bitstreams: 2 license_rdf: 23149 bytes, checksum: 1996b8461bc290aef6a27d78c67b6b52 (MD5) ICS13.pdf: 101604 bytes, checksum: 537f210412594eca8fd38ee0cd7f660e (MD5)Approved for entry into archive by Machado Jimena (jmachado@fing.edu.uy) on 2021-12-01T15:29:55Z (GMT) No. of bitstreams: 2 license_rdf: 23149 bytes, checksum: 1996b8461bc290aef6a27d78c67b6b52 (MD5) ICS13.pdf: 101604 bytes, checksum: 537f210412594eca8fd38ee0cd7f660e (MD5)Made available in DSpace by Luna Fabiana (fabiana.luna@seciu.edu.uy) on 2021-12-01T15:33:52Z (GMT). No. of bitstreams: 2 license_rdf: 23149 bytes, checksum: 1996b8461bc290aef6a27d78c67b6b52 (MD5) ICS13.pdf: 101604 bytes, checksum: 537f210412594eca8fd38ee0cd7f660e (MD5) Previous issue date: 20132 p.application/pdfesspaSEMETROX SEMETRO 2013, 10th International Congress on Electrical Metrology, Instituto Nacional de Tecnología Industrial (INTI), Buenos Aires, Argentina, 25-27 sep. 2013, pp. 1-2.Las obras depositadas en el Repositorio se rigen por la Ordenanza de los Derechos de la Propiedad Intelectual de la Universidad de la República.(Res. Nº 91 de C.D.C. de 8/III/1994 – D.O. 7/IV/1994) y por la Ordenanza del Repositorio Abierto de la Universidad de la República (Res. Nº 16 de C.D.C. de 07/10/2014)info:eu-repo/semantics/openAccessLicencia Creative Commons Atribución - No Comercial - Sin Derivadas (CC - By-NC-ND 4.0)ResistorPatrónAlta precisiónIncertidumbreTrazabilidadSistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.Ponenciainfo:eu-repo/semantics/conferenceObjectinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionreponame:COLIBRIinstname:Universidad de la Repúblicainstacron:Universidad de la RepúblicaIzquierdo, DanielCamacho, María InésSlomovitz, DanielLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-84267http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/5/license.txt6429389a7df7277b72b7924fdc7d47a9MD55CC-LICENSElicense_urllicense_urltext/plain; charset=utf-850http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/2/license_urla006180e3f5b2ad0b88185d14284c0e0MD52license_textlicense_texttext/html; charset=utf-838616http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/3/license_text36c32e9c6da50e6d55578c16944ef7f6MD53license_rdflicense_rdfapplication/rdf+xml; charset=utf-823149http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/4/license_rdf1996b8461bc290aef6a27d78c67b6b52MD54ORIGINALICS13.pdfICS13.pdfapplication/pdf101604http://localhost:8080/xmlui/bitstream/20.500.12008/30264/1/ICS13.pdf537f210412594eca8fd38ee0cd7f660eMD5120.500.12008/302642021-12-01 12:33:52.215oai:colibri.udelar.edu.uy:20.500.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Universidadhttps://udelar.edu.uy/https://www.colibri.udelar.edu.uy/oai/requestmabel.seroubian@seciu.edu.uyUruguayopendoar:47712024-07-25T14:33:15.617955COLIBRI - Universidad de la Repúblicafalse
spellingShingle Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
Izquierdo, Daniel
Resistor
Patrón
Alta precisión
Incertidumbre
Trazabilidad
status_str publishedVersion
title Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
title_full Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
title_fullStr Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
title_full_unstemmed Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
title_short Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
title_sort Sistema automático para el mantenimiento del patrón de resistencia.
topic Resistor
Patrón
Alta precisión
Incertidumbre
Trazabilidad
url https://hdl.handle.net/20.500.12008/30264