Mostrando 1 - 1 resultados de 1 para la búsqueda [ DE WIT, A. ] , tiempo de consulta: 0.02s
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1Artículo Predicting within-field soybean yield variability by coupling Sentinel-2 leaf area index with a crop growth model. GASO, D. - DE WIT, A. - BERGER, A. - KOOISTRA, L.
2021
Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria
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