Assimilating leaf area index into a simple crop model to predict soybean yield and maximum root depth at field scale.
- Autor(es):
- GASO, D. ; BERGER, A. ; LAMMERT, K. ; ALLARD, W.
- Tipo:
- Conferencia
- Versión:
- Publicado
- Año:
- 2020
- Idioma:
- Inglés
- Temas:
- SOYBEAN
Yield forecasting
SOJA
RENDIMIENTO DE CULTIVOS
- Institución:
- Instituto Nacional de Investigación Agropecuaria
- Repositorio:
- Ainfo
- Enlace(s):
- http://www.ainfo.inia.uy/consulta/busca?b=pc&id=62746&biblioteca=vazio&busca=62746&qFacets=62746
- Nivel de acceso:
- Acceso abierto
